事業内容｜非接触検査装置 <製品ラインアップ＞

ＴＦＴ／ＯＬＥＤ非接触オープン／ショート検査機
・ Gen.5〜Gen.10の基板サイズ対応 ・ 非接触検査による高スループット ・ 豊富な納入実績をベースとした、 高い欠陥検出能力
	Gen.10	Gen.8.5
型式	UNIOS Series	UNIOS Series
ガラス基板サイズ	2,880x3,080mm	2,200x2,500mm
タクトタイム	約110秒（42"）	約120秒（32"）
装置サイズ	4,800x5,600x2,700mm	4,400x4,980x2,800mm
特性検査(TEG)用プローバー	アレイ検査プローバー(LTPS)	画像処理検査システム
・ Gen.3〜Gen.10の基板サイズ対応 ・ ノイズ低減機能採用による測定 信頼性の向上 ・ 各種特殊機能により操作性向上	・ 〜Gen.6.0の基板サイズ対応 ・ 高スループット、低ノイズ実現 ・ 高信頼プローブユニットと品種交換の自動化 ・ 各社テスターに対応可能	・ 高解像度、高速画像処理技術によりLCDアレイパターン検査が可能 ・ 非接触オープン・ショート検出センサとのインテグレートにより、より高い欠陥検出率を達成
タッチパネル用 非接触オープン／ショート検査装置
型式 UNIOS-TP ガラス基板サイズ 730 × 920mm スキャンスピード 100〜500mm/sec 装置サイズ 3,000 × 2,600 × 2,100mm		多軸センサーヘッド搭載で大幅なタクト短縮（最大18ヘッド）
各種検査装置の使用用途一覧
非接触オープン／ショート検査装置事業 FPD（LCD, PDP, OLED）用OS検査装置 PCB用OS検査装置 太陽電池OS検査装置 高性能ビジョン(画像処理)検査システム事業 FPD用各種光学フィルム検査装置 FPDセル用点灯検査装置 二次電池電極検査装置 次世代電池関連機器事業 二次電池(リチウムイオン)テストシステム 次世代電池（燃料電池）用インバーター